Структура инженерной лаборатории IРГЕТАС

Инженерлік зертхана құрамына кіреді:

 

Жарық түсiретiн электрондық микроскопияның тобы

1

JEM-2100 жарық түсiретiн электрондық микроскоп, «JEOL Ltd.» компаниясы (Жапония)өндірді.

Үдету кернеуі: 200 кВдейін

Ажырату қабілеті: 0,14 нмдейін

Аспаптық үлкейту: х1 500 000дейін

Материал құрылымын зерттеу, кристалдық фазаларды ұқсастыру, бөлшектер мен кристалдардың өлшемдерін анықтау.

Инженер-зерттеуші – Мисевра Сергей Яковлевич

e-mail: SMisevra@ektu.kz

 

Растрлы электронды микроскопия зертханасы

3

JSM-6390LV растрлы электронды микроскоп, «JEOL Ltd.» компаниясы (Жапония)өндіреді. Сонымен бірге «OXFORD Instruments Analytical Limited» (Ұлыбритания) компаниясының  энергодисперсті микроталдау жүйесі INCA Energy.

Үдету кернеуі: 30 кВ дейін

Ажырату қабілеті: 3 нм дейін

Аспаптық үлкейту: х300 000 дейін

Анықталатын элементтер: B-дан U-ға дейін

Сынамалар мен үлгілер беттерінің топографиясы мен микроқұрылымын зерттеу (соның ішінде диэлектриктерді – төмен вакуум режімінде), нүктелік облыстағы элементтердің сапалық және мөлшерлі микроталдау, таңдалған сызық бойымен элементтердің бөлінісуінің профилін құру, таңдалған аумақтағы элементтер бөлінісуінің карталарын ау.

Инженер-зерттеуші – Садибеков Айдар Бекадилович

e-mail: ASadibekov@ektu.kz

 

Рентгенді дифрактометрия зертханасы

5

X’Pert PRO рентгенді дифрактометр, «PANalitical» (Голландия)компаниясымен өндіріледі.

2θдифракция бұрыштарының диапазоны: -12º-ден +140º-ге дейін

Сканирлеудің минимальді қадамы: 0,001º

Фазаларды сапалы және мөлшерлі талдау, кристалдардың орналасуы мен ұяшықтың өлшемдерін анықтау, поликристалдардың құрылымын, микрокернеулер мен текстураларды талдау.

Инженер-зерттеуші – ф-м.ғ.к. Кабланбеков Болат Мухаметкалиевич

e-mail:BKablanbekov@ektu.kz

 

Масс-спектрометрия зертханасы

7

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой ICP-MS Agilent 7500cx индуктивті байланысқан плазмамен масс-спектрометр, «Agilent Technologies» (США)компаниясымен өндіріледі.

Сұйық объекттердегі минимальді анықталатын шоғырлану: 10-9 г/дм3дейін

Қатты заттарды: 1 ppbдейін

Органикалық емес заттар мен материалдардың мөлшерлі элементті талдау (органикалық емес сұйықтар, су, жыныстар, кен, металдар, қыш және т.б.), изотопты талдау.

Инженер-зерттеуші – Полежаев Станислав Николаевич

e-mail: SPolezhaev@ektu.kz

 

Рентгенфлуоресцентті спектрометрия зертханасы

9

СРВ-1Мрентгенфлуоресцентті спектрометр, ЖШС «ТехноАналит» (ҚР, Өскемен)өндіреді.

Детектордың энергетикалық ажылату қабілеті: 180 эВтөмен

Өлшенетін энергиялар диапазоны: 2-ден 30 кэВдейін

Массалы мөлшердің өлшену шегі: 0,1%-дан 100%-ге дейін

Қатты, сұйық және ұнтақтәрізді күйдегі сынамаларда химиялық элементтердің мөлшерін (массалы бөліктер) сапалы және мөлшерлі анықтау, биофизикалық, биологиялық, экологиялық және геологиялық объекттерді экспресті талдау. 

Зертханаларға сонымен бірге сынамаларды дайындау учаскелері кіреді:

  • химия зертханасы;
  • термиялық өңдеу зертханасы;
  • вакуумды техника мен жұқақабыршақтарды алу зертханасы;
  • жұқа ұнтақтаудың зертханасы;
  • микроысылмалар зертханасы;
  • электрогидроимпульсті дезинтеграция зертханасы;
  • механикалық шеберхана.

Мекен-жай: 070010, Өскемен қ., Серікбаев көшесі, 19, Д.Серікбаев атындағы ШҚМТУ, Г3-114, IРГЕТАСинженерлік зертханасы.

Тел./факс: (8-723-2) 541-488

e-mail: OGavrilenko@ektu.kz, SMisevra@ektu.kz